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Identification of donor deactivation centers in heavily As-doped Si using time-of-flight medium-energy ion scattering spectroscopy |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:W. Min; Kyungsu Park; K. Yu; S. Joo; Yong-Sung Kim; et al 出版日期:2015-10-05 |
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(2025-6-4)