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SLM Subsystem for Automotive SoC: Case Study on Path Margin Monitor |
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期刊:2023 IEEE International Test Conference (ITC) 作者:Kranthi Kandula; Ramalingam Kolisetti; Grigor Tshagharyan; Gurgen Harutyunyan; Yervant Zorian 出版日期:2023-10-07 |
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