| 标题 |
 Analysis of impact ionization on RF power LDMOS reliability under RF life test in radar system 雷达系统射频寿命试验下冲击电离对射频功率LDMOS可靠性的影响分析
相关领域
LDMOS
撞击电离
晶体管
材料科学
无线电频率
可靠性（半导体）
光电子学
功率（物理）
电离
电气工程
电子工程
工程类
物理
电压
离子
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Microelectronics Reliability 作者：M.A. Belaïd 出版日期：2022-08-18 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
Kao
cdercder
Criminology34
Nole
Copyright
伶俐妙海
yjh123
学术文献互助
OK
sagitar
蓝天
Twonej
GingerF
斯文钢笔
初景
avalanche
老胡
潇洒的惋清
愉快的真
皖公网安备34019202002308
