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[高分]
学位论文 Electric Characterization of SiC Trench MOSFETs with DLTS and Admittance Spectroscopy 用DLT和导纳光谱表征SiC沟槽MOSFET
相关领域
表征(材料科学)
材料科学
沟槽
光电子学
碳化硅
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期刊:reposiTUm (TU Wien) 作者:Magdalena Weger 出版日期:2021-06-01 |
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