| 标题 |
  Measuring Non-Destructively the Total Indium Content and Its Lateral Distribution in Very Thin Single Layers or Quantum Dots Deposited onto Gallium Arsenide Substrates Using Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy in a Scanning Electron Microscope 在扫描电子显微镜中使用能量色散X射线光谱非破坏性地测量沉积在砷化镓衬底上的非常薄的单层或量子点中的总铟含量及其横向分布
相关领域
砷化镓
铟
材料科学
量子点
光电子学
砷化铟
磷化铟
外延
镓
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锑化铟
薄脆饼
锑化镓
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物理
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| 其它 |
期刊：Nanomaterials 作者：T Walther 出版日期：2022-06-28 |
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