| 标题 |
  Measuring Non-Destructively the Total Indium Content and Its Lateral Distribution in Very Thin Single Layers or Quantum Dots Deposited onto Gallium Arsenide Substrates Using Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy in a Scanning Electron Microscope 在扫描电子显微镜中使用能量色散X射线光谱非破坏性地测量沉积在砷化镓衬底上的非常薄的单层或量子点中的总铟含量及其横向分布
相关领域
砷化镓
铟
材料科学
量子点
光电子学
砷化铟
磷化铟
外延
镓
基质（水族馆）
锑化铟
薄脆饼
锑化镓
图层（电子）
砷化物
半导体
光谱学
超晶格
纳米技术
量子力学
海洋学
冶金
地质学
物理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Nanomaterials 作者：T Walther 出版日期：2022-06-28 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Copyright
Kao
乐空思
cdercder
GingerF
Criminology34
无极微光
Nole
kk
keven
淡淡樱桃
OK
sagitar
musen
YifanWang
沉默的雪枫
arniu2008
xiaolizi
潇洒的惋清
369ninja
皖公网安备34019202002308
