Scanning probe microscopy electrical measurement technique and its application in low-dimensional materials: A review

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标题	Scanning probe microscopy electrical measurement technique and its application in low-dimensional materials: A review
网址	https://doi.org/10.1016/j.mattod.2025.11.037
DOI	10.1016/j.mattod.2025.11.037 doi
其它	期刊：Materials Today 作者：Hailong Yin; Jianlei Cui; Tong Ma; Xuesong Mei; Yang Ju 出版日期：2025-12-05
求助人	Stephhen 在 2026-08-19 22:48:55 发布自山东，悬赏 10 积分
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