Examining and Mitigating Underspecification in Neural Network-based Wafer Defect Pattern Classification

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标题	Examining and Mitigating Underspecification in Neural Network-based Wafer Defect Pattern Classification
网址	http://dx.doi.org/10.1007/s10845-026-02890-8
DOI	10.1007/s10845-026-02890-8 doi
其它	期刊：Journal of Intelligent Manufacturing 作者：Kani Fu; Zihan Li; Linrui Zhao; Akash Deep; Jaesung Lee; et al 出版日期：2026-06-02
求助人	称心颖在 2026-07-06 21:16:28 发布自广东，悬赏 10 积分
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