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A low gate leakage current and small equivalent oxide thickness MOSFET with Ti/HfO2 high-k gate dielectric |
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期刊:Microelectronic Engineering 作者:C.H. Fu; K.S. Chang-Liao; Y.A. Chang; Y.Y. Hsu; T.H. Tzeng; et al 出版日期:2011-04-15 |
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(2025-6-4)