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Modeling and Characterization of the Narrow-Width Effect of 4H-SiC MOSFETs With Local Oxidation of SiC Isolation SiC隔离局部氧化4H-SiC MOSFET窄宽度效应的模拟与表征
相关领域
材料科学
MOSFET
宽禁带半导体
表征(材料科学)
分离(微生物学)
碳化硅
光电子学
电子工程
电气工程
纳米技术
工程类
晶体管
复合材料
电压
生物
微生物学
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Hao-Chung Kuo; Bing‐Yue Tsui; Chun-Pin Shih; Te-Kai Tsai 出版日期:2022-08-29 |
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