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Chemical conversion of MoS2 thin films deposited by atomic layer deposition (ALD) into molybdenum nitride monitored by in situ reflectance measurements |
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology A 作者:J. Patouillard; R. Gassilloud; F. Mercier; A. Mantoux; R. Boichot; et al 出版日期:2023 |
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(2025-6-4)