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 Broadband complex permeability characterization of magnetic thin films using shorted microstrip transmission-line perturbation 利用短路微带传输线微扰表征磁性薄膜的宽带复磁导率
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期刊：Review of Scientific Instruments 作者：Yan Liu; Linfeng Chen; C.Y. Tan; H. J. Liu; C. K. Ong 出版日期：2005-06-01 |
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