| 标题 |
 Emissivity Measurements of Vanadium Dioxide Thin Films through the Thermal Wave Resonant Cavity and its Applications in Radiative Thermal Diode and Transistor Simulations 通过热波谐振腔的V_2O_3薄膜的E_3测量及其在热辐射二极管和晶体管模拟中的应用
相关领域
发射率
二氧化二钒
材料科学
热的
光电子学
二极管
辐射传输
钒
热辐射
红外线的
光学
薄膜
热力学
物理
纳米技术
冶金
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
Rondab
MLS8620
轻松的惜芹
eric888
yar
二三
yx_cheng
bxxxxx
从容芮
竹筏过海
积极的台灯
过氧化氢
风雨中飘摇
Liufgui
直觉
GingerF
乐乐乐乐乐乐
MchemG
tang
fanyueyue
皖公网安备34019202002308
