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 Customized wafer level verification methodology: quality risk pre-diagnosis with enhanced screen-ability of stand-by stress-related deteriorations 定制晶圆级验证方法：质量风险预诊断，增强待机应力相关劣化的筛选能力
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期刊：2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：Jiyoung Yoon; B.C. Lee; Jaehee Song; Bokyoung Kang; Sangho Lee; et al 出版日期：2023-03-01 |
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