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Design of Atomic Force Microscope System Based on Z-Axis Separated Force Measurement 相关领域
执行机构
非接触原子力显微镜
偏转(物理)
材料科学
显微镜
流离失所(心理学)
声学
光学
原子力显微镜
原子力声学显微镜
扫描探针显微镜
压电
激光扫描
数据采集
激光器
微执行器
力谱学
计量系统
精密工程
磁道(磁盘驱动器)
磁力显微镜
工作(物理)
控制系统
样品(材料)
机械工程
激光束
刚度
梁(结构)
振动
压电传感器
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期刊: 作者:Haiyue Yu; Wen‐Tao Yu; Hangze Song; Chuanchuan Guo; Baichuan Wang; et al 出版日期:2025-07-28 |
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