| 标题 |
Optimization of positive-tone metal-oxide resist process for high-NA DRAM applications |
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10.1117/12.3118464
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| 其它 |
期刊:International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2026 作者:Herman Nicolai; Peter De Schepper; Kanta Yanagi; Rik Hoefnagels; Joost van Bree; et al 出版日期:2026-10-23 |
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(2025-6-4)