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![]() 工艺温度对等离子体增强原子层沉积Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜密度和电学特性的影响
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期刊:Nanomaterials 作者:Hak-Gyeong Kim; Dongwan Hong; Jae-Hoon Yoo; Hee Chul Lee 出版日期:2022-02-05 |
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