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 Evolution of residual stress reversal in GaN-based Micro-LEDs during laser lift-off via calibrated Raman spectroscopy 相关领域
材料科学
残余应力
拉曼光谱
氮化镓
压力（语言学）
光电子学
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光致发光
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二极管
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光谱学
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期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：Xin Liu; Haiying Wei; Chenghao Yang; Yaoen Luo; Hanhao Liang; et al 出版日期：2026-03-02 |
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