| 标题 |
 Robust Recovery Scheme for MFIS-FeFETs at Optimal Timing with Prolonged Endurance: Fast-Unipolar Pulsing (100 ns), Nearly Zero Memory Window Loss (0.02 %), and Self-Tracking Circuit Design |
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| 其它 |
期刊：2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：C.-H. Wu; J. Liu; X.-T. Zheng; Y.-M. Tseng; Μ. Kobayashi; et al 出版日期：2023-12-09 |
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