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 Interface-Engineered Al:IZTO/Tellurium Heterojunction TFTs with Ultra-Thin Al ₂ O ₃ for Tunable Double Turn-On and NDR Characteristics in Logic Applications 相关领域
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期刊：2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：J. Han; M. Lee; C.Yang C. Yang; B. Ju; S. Nam 出版日期：2026-01-31 |
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