| 标题 |
 Analysis of Dislocations in PVT-Grown 6H-SiC through Grazing-Incidence X-Ray Topographic Images and Ray-Tracing Simulation PVT生长6H-SiC中位错的掠入射X射线形貌及射线追踪模拟分析
相关领域
光线追踪（物理）
X射线
材料科学
光学
计算机图形学（图像）
物理
计算机科学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：ECS transactions 作者：Qianyu Cheng; Tuerxun Ailihumaer; Hongyu Peng; Yafei Liu; Balaji Raghothamachar; et al 出版日期：2020-09-23 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
昏睡的蟠桃
cdercder
bc
卡卡西
冰魂
SYLH
大腚疯猪
诸葛御风
jenningseastera
科研助手6
期待未来的自己
yizhouchang
iNk
子车茗
椰子在长江送礼物
平常的毛豆
kingwill
ZhouYW
pluto
Eve丶Paopaoxuan
皖公网安备34019202002308
