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Reliability study and optimization of TSV interconnections with silicon interposer under random vibration 随机振动下含硅内插层TSV互连的可靠性研究与优化
相关领域
中间层
可靠性(半导体)
振动
通过硅通孔
随机振动
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电子工程
工程类
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物理
功率(物理)
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量子力学
图层(电子)
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(2025-6-4)