| 标题 |
  Sensitive Characterization of the Graphene Transferred onto Varied Si Wafer Surfaces via Terahertz Emission Spectroscopy and Microscopy (TES/LTEM) 相关领域
石墨烯
材料科学
氧化石墨烯纸
石墨烯纳米带
单层
硅
化学气相沉积
纳米技术
薄脆饼
光电子学
太赫兹辐射
氧化物
半导体
冶金
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期刊：Materials 作者：Dongxun Yang; Jesse Henri Laarman; Masayoshi Tonouchi 出版日期：2024-03-26 |
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