| 标题 |
Analysis of TID Effects on the Threshold Voltage and Breakdown Voltage of 100-V Split-Gate Trench VDMOS |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Yuan Wang; Tao Liu; Zhijiang Dai; Jingyu Tao; Lingli Qian; et al 出版日期:2024-04-22 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人或该文件上传人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)