Deep-Learning Based Depth-Tracking of Stacking-Faults in Epitaxially Grown Silicon Wafers

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标题	Deep-Learning Based Depth-Tracking of Stacking-Faults in Epitaxially Grown Silicon Wafers
网址	https://www.tib-op.org/ojs/index.php/siliconpv/article/downl...
DOI	10.52825/siliconpv.v2i.1265 doi
其它	期刊：SiliconPV Conference Proceedings 作者：Theresa Trötschler; Saed Al-Hajjawi; Siddharth Raghavendran; Jonas Haunschild; Matthias Demant; et al 出版日期：2025-02-03
求助人	正直的hh 在 2026-10-09 19:21:42 发布自安徽，悬赏 10 积分
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