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High sensitivity x-ray detectors based on 4H-SiC p-i-n structure with 80μm thick intrinsic layer |
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 作者:Qing Liu; Dong Zhou; Weizong Xu; Dunjun Chen; Fangfang Ren; et al 出版日期:2021-03-11 |
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