| 标题 |
Harnessing measurement-induced quantum uncertainty for ultrafast on-chip source-device-independent randomness certification |
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| DOI |
10.1364/prj.597144
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| 其它 |
期刊:Photonics Research 作者:Lang Li; Beibei Zhang; Hanwen Yin; Xiaojuan Liao; Yankai Xu; et al 出版日期:2026-07-10 |
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(2025-6-4)