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 High-resolution X-ray imaging technologies for non-destructive testing of integrated circuits 用于集成电路无损检测的高分辨率X射线成像技术
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集成电路
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期刊：Nano materials science 作者：Xiangyi Wang; Zhi Wang; Zhiai Xu; Longbing He; Litao Sun; et al 出版日期：2025-11-01 |
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