| 标题 |
Impact of layout and profile optimization for inverse-mode SiGe HBT on SET and TID responses |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Jia-Nan Wei; Chaohui He; Pei Li; Yonghong Li; Hong-Xia Guo 出版日期:2020-02-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人或该文件上传人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)