Recent advances in contact resistivity at metal–semiconductor interfaces for post-Moore nanoscale devices

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标题	Recent advances in contact resistivity at metal–semiconductor interfaces for post-Moore nanoscale devices
网址	https://pubs.aip.org/aip/aed/article-pdf/doi/10.1063/5.03085...
DOI	10.1063/5.0308539 doi
其它	期刊：APL Electronic Devices 作者：Maokun Wu; Miaojia Yuan; Haobo Lin; Hong Dong; Feng Lu; et al 出版日期：2026-02-02
求助人	Rubisco 在 2026-11-03 22:56:04 发布自美国，悬赏 10 积分
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