| 标题 |
Lithography hotspot detection and automated repair using pattern encoding and CNNs |
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| DOI |
10.1117/12.3116850
doi
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| 其它 |
期刊:Photomask Japan 作者:Yu-Tse Wu; Arthur Lin; Chun-Ming Wang 出版日期:2026-09-23 |
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(2025-6-4)