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![]() 利用EBIC成像识别功率MOSFET的局部辐射损伤
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期刊:Applied Physics Letters 作者:David S. Ashby; Diana R. Garland; Madeline G. Esposito; György Vizkelethy; Matthew Marinella; et al 出版日期:2021-05-17 |
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阿木
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2025-08-30 18:40:50 发布,悬赏 10 积分
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