| 标题 |
Uniformity of Optical Constants in Amorphous Ta2O5 Thin Films as Measured by Spectroscopic Ellipsometry |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Russian Microelectronics 作者:V. A. Shvets; D. V. Gritsenko; V. Sh. Aliev; S. I. Chikichev*; S. V. Rykhlitskii 出版日期:2004-09-29 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)