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Phase-Selective Epitaxy of Trigonal and Orthorhombic Bismuth Thin Films on Si (111) 相关领域
材料科学
薄膜
分子束外延
正交晶系
铋
扫描透射电子显微镜
纳米技术
相(物质)
外延
光电子学
透射电子显微镜
结晶学
晶体结构
化学
冶金
有机化学
图层(电子)
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期刊:Nanomaterials 作者:Abdur Rehman Jalil; Xiao Hou; Peter Schüffelgen; Jin Hee Bae; Elmar Neumann; et al 出版日期:2023 |
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