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True 7nm Platform Technology featuring Smallest FinFET and Smallest SRAM cell by EUV, Special Constructs and 3rd Generation Single Diffusion Break |
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期刊:2018 IEEE Symposium on VLSI Technology 作者:W.C. Jeong; D.J. Kwon; K.J. Nam; W.J. Rim; M.S. Jang; et al 出版日期:2018-06-01 |
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