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Balancing bulk defect generation and field-dependent charge yield in proton-irradiated a-InSnZnO TFTs via dielectrics thickness |
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期刊:Applications of Surface Science 作者:Zhao-Zhao Yang; Caiwang Luo; Wen-Jing Qin; Rui He; Yawei Lv; et al 出版日期:2026-01-01 |
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(2025-6-4)