| 标题 |
 Study of Scattering Effect on AC Reliability of Gate-All-Around Nanosheet FETs From Quantum Transport Perspective 相关领域
散射
纳米片
电流密度
材料科学
热传导
载流子散射
晶体管
凝聚态物理
声子散射
场效应晶体管
弹道传导
纳米电子学
流离失所（心理学）
散射理论
MOSFET
量子
物理
态密度
库仑
量子阱
可靠性（半导体）
领域（数学）
光散射
光电子学
电子迁移率
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Liang Tian; Yizhang Liu; Xingyu Zhai; Yiqun Niu; Qinyi Huang; et al 出版日期：2025-12-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
cdercder
22336
Copyright
ssfg
热心的薯片
幸福念文
十二
Nole
ale
帅气爆米花
arniu2008
ting
369ninja
淡然冬灵
愉快的真
sagitar
rico
YangShu
Rocky
皖公网安备34019202002308
