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 A Deep Insight Into the Ionizing Radiation Effects and Mechanisms on the Dynamic Characteristics of SiC MOSFETs 深入探讨电离辐射对SiOPCs动态特性的影响及其机制
相关领域
电离辐射
MOSFET
材料科学
辐射
光电子学
辐射损伤
电子工程
工程物理
物理
辐照
工程类
电气工程
核物理学
晶体管
电压
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Haoshu Tan; Lin Zhang; Rongrong Tan; Peng Dong 出版日期：2023-12-19 |
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