| 标题 |
 High-temperature and reliability performance of 4H-SiC Schottky-barrier photodiodes for UV detection 用于紫外检测的4 H-SiOttky阻挡光电二极管的高温和可靠性性能
相关领域
光电二极管
材料科学
光电子学
肖特基势垒
退火（玻璃）
肖特基二极管
光电探测器
量子效率
暗电流
紫外线
大气温度范围
宽禁带半导体
带隙
复合材料
二极管
物理
气象学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena 作者：Yisong Xu; Dong Zhou; Hai Lu; Dunjun Chen; Fangfang Ren; et al 出版日期：2015-06-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
无极微光
小杭76
avalanche
小青椒
xxfsx
Criminology34
虚心的小兔子
yznfly
pluto
寒江雪
GingerF
iNk
sevenhill
左耳钉
嘿嘿
Meyako
寻道图强
eric888
怡然的怜烟
小药童
殷勤的紫槐
hhhg
猪猪hero
皖公网安备34019202002308
