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![]() 用于紫外检测的4 H-SiOttky阻挡光电二极管的高温和可靠性性能
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena 作者:Yisong Xu; Dong Zhou; Hai Lu; Dunjun Chen; Fangfang Ren; et al 出版日期:2015-06-26 |
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