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Pulse duration effect during pulsed gate-bias stress in a-InGaZnO thin film transistors |
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期刊:Solid-state Electronics 作者:Woo‐Sic Kim; Yun‐Seong Kang; Yong‐Jung Cho; Jeong-Ki Park; GeonTae Kim; et al 出版日期:2018-12-05 |
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(2025-6-4)