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 Failure Analysis of Latent Defects in Flip Chip Controllers Under Bias-HAST: Insights from Assembly and Test Processes 相关领域
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期刊：2025 IEEE 32nd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 作者：Yong Yang Gau; Bee Chin Loke; Wei Yeek Tan; Muhammad Firdaus Bin Ismail; Chee Peng Lim 出版日期：2025 |
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(2025-6-4)
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