| 标题 |
Understanding the Influence of Metal Oxide Layer Thickness and Defects on Resistive Switching Behavior Through Numerical Modeling 相关领域
材料科学
导电体
蛋白质丝
氧化物
图层(电子)
金属
电介质
复合材料
电阻式触摸屏
电阻随机存取存储器
介电强度
绝缘体(电)
金属绝缘体金属
电压
凝聚态物理
光电子学
电气工程
冶金
电容器
物理
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:physica status solidi (a) 作者:Catarina Dias; J. Ventura 出版日期:2022-12-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|