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Few-shot semantic segmentation for industrial defect recognition 用于工业缺陷识别的少量语义分割
相关领域
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计算机科学
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期刊:Computers in Industry 作者:Xiangwen Shi; Shao‐Bing Zhang; Miao Cheng; Lian He; Xianghong Tang; et al 出版日期:2023-03-29 |
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