| 标题 |
Enabling 3X nm DRAM: Record low leakage 0.4 nm EOT MIM capacitors with novel stack engineering 相关领域
德拉姆
电容器
电介质
泄漏(经济)
堆栈(抽象数据类型)
材料科学
光电子学
物理
分析化学(期刊)
电气工程
化学
计算机科学
工程类
有机化学
操作系统
经济
宏观经济学
电压
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊: 作者:Małgorzata Pawlak; M. Popovici; Johan Swerts; Kazuyuki Tomida; Minsoo Kim; et al 出版日期:2010-12-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|