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Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs 常闭全垂直GaN FinFET的电容和迁移率评估
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Philipp Gribisch; Rosalía Delgado Carrascón; Vanya Darakchieva; Erik Lind 出版日期:2023-07-07 |
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