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![]() 增强型改进型横向可控硅整流器中击穿引起的金属迁移的直接可视化
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Xinqian Chen; Feibo Du; Chaolun Wang; Hejun Xu; Yuxin Zhang; et al 出版日期:2021-02-12 |
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