| 标题 |
 Hot Carrier Injection Reliability of Fabricated N- and P-Type Multi FinFETs with Different TiN Stacks 不同TiN堆叠制备N型和P型多FinFET的热载流子注入可靠性
相关领域
材料科学
跨导
可靠性（半导体）
光电子学
锡
阈值电压
基础（拓扑）
降级（电信）
负偏压温度不稳定性
热载流子注入
电压
电气工程
晶体管
工程类
数学分析
冶金
功率（物理）
物理
量子力学
数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Yu-Lin Chen; Wen‐Kuan Yeh; Heng‐Tung Hsu; Ke‐Horng Chen; Wen‐Chin Lin; et al 出版日期：2023-03-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
唐泽雪穗
贝贝
Yoanna
leaolf
从容芮
今日
馆长
laber
核桃
YifanWang
Tourist
GingerF
浮游
GPTea
Dai
完美世界
Criminology34
andrele
ccczzz
儒雅海秋
ccm
changping
HybirdCell
tuanheqi
遇上就这样吧
正己化人
好椰
venom
皖公网安备34019202002308
