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 Epitaxy fine tuning to improve trench power MOSFET avalanche reliability 外延微调提高沟槽功率MOSFET雪崩可靠性
相关领域
功率MOSFET
可靠性（半导体）
沟槽
MOSFET
材料科学
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期刊： 作者：Marina Ruggeri; Patrick Calenzo; Frédéric Morancho; L. Masoero; Rosalia Germana; et al 出版日期：2024-10-06 |
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