CSTBT™ technology for high voltage applications with high dynamic robustness and low overall loss

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标题	CSTBT™ technology for high voltage applications with high dynamic robustness and low overall loss
网址	http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2020.113635
DOI	10.1016/j.microrel.2020.113635 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Katsumi Nakamura; Ze Chen; Shin-ichi Nishizawa; Akihiko Furukawa 出版日期：2020-07-01
求助人	ppboyindream 在 2026-07-13 13:55:55 发布自上海，悬赏 10 积分
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