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Analytical Modeling and Validation of Thermal Fatigue Failure in Die Attach Structures for Power Electronics Modules |
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期刊:Journal of Electronic Materials 作者:Xinghe Luan; Liguo Ding; Danlei Jiang; Xuemin Li; Hongjie Zhang; et al 出版日期:2025-10-01 |
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(2025-6-4)