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Toward Understanding the Positive Shift of Reverse Turn-on Voltage in the Third Quadrant Operation in Planar SiC Power MOSFETs After Avalanche Breakdown 了解平面SiC功率MOSFET雪崩击穿后第三象限工作中反向导通电压的正移
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Wei-Cheng Lin; Yu‐Sheng Hsiao; C. L. Sung; Chu Th Bích Ng c; Rustam Kumar; et al 出版日期:2025-02-13 |
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